Weißlicht-Interferometer Marsurf WM 100

Messtechnik Der neue Weißlicht-Interferometer Marsurf WM 100 von Mahr, Göttingen, eignet sich für schnelle Messungen von feinen und feinsten Oberflächendetails im Nanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren können in nur wenigen Sekunden aussagekräftige topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit ermittelt werden. Die Auswertesoftware unterstützt die individuelle Darstellung der Messergebnisse und damit die Qualitätssicherung der Werkstücke. Der optische Messplatz arbeitet mit einer Auflösung im Subnanometerbereich.

Konzipiert ist er insbesondere für die Qualitätssicherung feinster technischer Oberflächen wie beispielsweise auf optischen Elementen oder ähnlichen polierten, spiegelnden Oberflächen. Im Einsatz ist das Messsystem derzeit vorwiegend bei Herstellern sphärischer und asphärischer Linsen. Möglich sind Analysen der Oberflächen in 2D und 3D. Die sekundenschnellen Messungen machen es möglich, innerhalb des Fertigungsprozesses wesentlich mehr Werkstücke umfassender und zuverlässiger zu prüfen als mit traditionellen Prüfmethoden.