FT-IR-Mikroskop misst chemische Identität
Verbundfolien IR-spektroskopisch kontrollieren
Mit der FT-IR-Mikroskopie lässt sich die chemische Identität von Materialien in Verbundfolien identifizieren, um den einwandfreien Aufbau einer Folie zu kontrollieren oder ein Wettbewerberprodukt zu analysieren. Das Verfahren identifiziert Materialien in der Polymermatrix und bestimmt wie sie verteilt sind. Außerdem können Anwender Füllstoffpartikel oder Defekte im Verpackungsmaterial erkennen und bestimmen, was das Suchen nach möglichen Ursachen erleichtert. Die FT-IR-Mikroskopie benötigt bei der Probenpräparation einen geringen zeitlichen und apparativen Aufwand. Zudem entfallen zusätzliche Verbrauchsmaterialien oder Reagenzien und die damit verbundenen Kosten. mehr... 30. August 2016 - Fachartikel
