ESCA

Oberflächenanalyse im Hochvakuum

06.04.2021 - Nur wenige Atomlagen bestimmen, ob eine Oberfläche wasserabweisend, bedruckbar, lackierbar, haftend oder antibakteriell ist. Die Oberfläche vieler Produkte wird deshalb gezielt verändert. Mit dem neuen Röntgenphotoelektronen-Spektrometers kann das Fraunhofer-Institut für Angewandte Polymerforschung IAP, Potsdam-Golm, Oberflächen nun noch genauer analysieren. Dies ist sowohl bei der Prozessentwicklung als auch bei der Fehleranalyse hilfreich.

Die Zustände an Materialoberflächen werden mit ESCA gut erfasst. (Bild: Fraunhofer IAP)

Eine besondere Expertise am Fraunhofer IAP ist die chemische Funktionalisierung von Oberflächen. Sie ist unerlässliche Grundlage für viele Produkte. Das Wissen um den Aufbau der obersten Atomlagen ist dabei Voraussetzung für das Entwickeln von Materialien, Produkten und Technologien, und schließlich auch, um Fehler zu identifizieren.

Die Forscherinnen und Forscher setzen dafür unter anderem ein neues, hoch modernes Gerät zur Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie (engl. X-ray photoelectron spectroscopy, XPS) ein, ein extrem leistungsfähiges Werkzeug zur Analyse von Oberflächen. Die auch als Elektronenspektroskopie für chemische Analyse (engl. electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA) bezeichnete Methode ermöglicht eine bessere Qualität der chemischen Strukturanalyse von Oberflächen und damit ein neues Niveau in Forschung und Entwicklung sowie bei der Fehleranalyse bei Haftfestikeitsproblemen.